Меню

График зависимости показаний приборов

Большая Энциклопедия Нефти и Газа

График — зависимость — показание — прибор

График зависимости показаний прибора от концентрации металлов в пробе строят в день анализа проб для каждого металла. [1]

Строят график зависимости показания прибора от объема прибавленного титранта. [2]

По полученным данным строят график зависимости показаний прибора от величины содержания влаги ( рис. 76), при этом по оси ординат откладывают содержание влаги ( Wp), а по оси абсцисс — показания прибора в делениях шкалы. [4]

На рис. XII-13 дан график зависимости показаний прибора от концентрации NaCl в рассоле. [5]

Если применяют инструментальный способ наблюдения, то строят график зависимости показания прибора от объема прибавленного титранта. Конечную точку находят экстраполяцией участков кривой титрования в области изменения ее наклона. [6]

В случае органических осадителей конечную точку титрования регистрируют при помощи спектрофотометра. При этом измеряют интенсивность окраски или помутнение анализируемого раствора и строят график зависимости показания прибора от израсходованного объема титранта. Изменение измеряемого параметра часто происходит вблизи точки эквивалентности. [7]

Нефелометрическое титрование основано на реакциях осаждения малорастворимых соединений, образующих устойчивую дисперсионную систему в начальный период осаждения. За ходом реакции образования осадка в разбавленном титруемом растворе наблюдают, измеряя интенсивность света, рассеянного под прямым углом к падающим лучам. Строят график зависимости показания прибора от объема прибавленного титранта. [8]

Метод позволяет проводить определение щелочи в смеси с другими веществами, дающими интенсивную окраску, для которых непригоден обычный титрометрический метод с кислотно-основными индикаторами. При этом используют высокочастотный титратор ТВ-6Л, титрант — О IN соляная кислота. Фиксируют изменение падения напряжения на ячейке и строят график зависимости показаний прибора от количества прибавленного титранта. [10]

Ход реакции изучают по радиоактивности специально введенного радиоактивного индикатора. Последний может удаляться из раствора в процессе титрования в виде осадка или легко экстрагируемого вещества. Это приводит к изменению радиоактивности водной фазы. Строят график зависимости показаний прибора от прибавленного объема титранта. [11]

Потенциометр включают в сеть за 10 — 15 мин до начала титрования. Стакан с раствором устанавливают на магнитную мешалку. Платиновые электроды полностью погружают в раствор и приступают к титрованию. Соляную кислоту вводят из бюретки по 0 5 мл. После введения каждой порции титранта включают магнитную мешалку и после перемешивания записывают показание прибора. Затем строят график зависимости показаний прибора ( в мВ) от. Точка перегиба кривой является точкой эквивалентности. [12]

Источник

Большая Энциклопедия Нефти и Газа

Зависимость — показание — прибор

На рис. 76 представлены зависимости показаний прибора а от величины приложенного напряжения для целых и дефектных изоляторов. Кривые / и 2 относятся к исправным изоляторам П-45. Показания прибора начинаются здесь при напряжении, близком к 25 кв, и обусловлены короной на изоляторах. С увеличением напряжения показания возрастают сравнительно медленно. Кривая 3 относится к целому изолятору, но с сильными следами дуги на его поверхности. Кривые 4, 5, 6 относятся к изоляторам с внутренними трещинами. При испытании этих изоляторов прибор начинает давать показания уже при 7 — МО кв, и с увеличением напряжения показания резко возрастают. [32]

На рис. 4 представлена зависимость показаний прибора T угла а. Полученная зависимость может быть использована для определения вектора скорости газового потока. [34]

Если построить в виде графика зависимость показаний прибора от величины тока дополнительного питания добавочных полюсов, то получается V-образная кривая, по расположению минимума которой можно судить о необходимом изменении возбуждения добавочных полюсов. Так же могут быть использованы и кривые, получаемые при употреблении в качестве регистрирующих приборов-измерителей радиопомех, например типа ИП-16. При включении указанных приборов на зажимы якоря машины через конденсаторы они измеряют высокочастотную составляющую напряжения, обусловленную наличием искровых и дуговых разрядов между коллектором и щетками. [35]

В приведенных уравнениях не отражена зависимость показаний прибора от температуры. Однако для уменьшения температурной погрешности были приняты некоторые меры: введены термостатиро-вание фотосопротивления и поддержание постоянства температуры стенок измерительной камеры. [37]

Читайте также:  Лазерная коррекция зрения прибора

Таким образом может быть установлена зависимость показаний прибора от изменения давления. [38]

Форма и материал поплавка определяют зависимость показаний прибора от свойств измеряемой среды. Кроме того, от материала зависит вес поплавка, а следовательно, и предел измерения ротаметра. Материал должен быть стойким против коррозии в измеряемой среде. Поплавки изготовляются из самых разнообразных материалов: стали, свинца, алюминия, бронзы, эбонита, пластмассы. При необходимости дополнительного изменения веса они выполняются как сплошными, так и пустотелыми. [39]

По полученным данным строят график зависимости показаний прибора от величины содержания влаги ( рис. 76), при этом по оси ординат откладывают содержание влаги ( Wp), а по оси абсцисс — показания прибора в делениях шкалы. [41]

Двойная решетка необходима для исключения зависимости показаний прибора от поляризации излучения. Проходящая мощность частично поглощается элементами решетки, в результате повышаются их температура и сопротивление. Изменение сопротивления решетки регистрируется одним из известных способов. [42]

На рис. XII-13 дан график зависимости показаний прибора от концентрации NaCl в рассоле. [43]

Обратная величина, характеризующая степень зависимости показаний прибора от трения, называется коэффициентом добротности. Этот коэффициент является важной характеристикой механических свойств электроизмерительного прибора. В выражение коэффициента добротности вводят численный множитель 10 с целью получения более удобного числа ( близкого к единице) для наиболее распространенных приборов. [44]

Источник

Большая Энциклопедия Нефти и Газа

Зависимость — показание — прибор

На рис. 76 представлены зависимости показаний прибора а от величины приложенного напряжения для целых и дефектных изоляторов. Кривые / и 2 относятся к исправным изоляторам П-45. Показания прибора начинаются здесь при напряжении, близком к 25 кв, и обусловлены короной на изоляторах. С увеличением напряжения показания возрастают сравнительно медленно. Кривая 3 относится к целому изолятору, но с сильными следами дуги на его поверхности. Кривые 4, 5, 6 относятся к изоляторам с внутренними трещинами. При испытании этих изоляторов прибор начинает давать показания уже при 7 — МО кв, и с увеличением напряжения показания резко возрастают. [32]

На рис. 4 представлена зависимость показаний прибора T угла а. Полученная зависимость может быть использована для определения вектора скорости газового потока. [34]

Если построить в виде графика зависимость показаний прибора от величины тока дополнительного питания добавочных полюсов, то получается V-образная кривая, по расположению минимума которой можно судить о необходимом изменении возбуждения добавочных полюсов. Так же могут быть использованы и кривые, получаемые при употреблении в качестве регистрирующих приборов-измерителей радиопомех, например типа ИП-16. При включении указанных приборов на зажимы якоря машины через конденсаторы они измеряют высокочастотную составляющую напряжения, обусловленную наличием искровых и дуговых разрядов между коллектором и щетками. [35]

В приведенных уравнениях не отражена зависимость показаний прибора от температуры. Однако для уменьшения температурной погрешности были приняты некоторые меры: введены термостатиро-вание фотосопротивления и поддержание постоянства температуры стенок измерительной камеры. [37]

Таким образом может быть установлена зависимость показаний прибора от изменения давления. [38]

Форма и материал поплавка определяют зависимость показаний прибора от свойств измеряемой среды. Кроме того, от материала зависит вес поплавка, а следовательно, и предел измерения ротаметра. Материал должен быть стойким против коррозии в измеряемой среде. Поплавки изготовляются из самых разнообразных материалов: стали, свинца, алюминия, бронзы, эбонита, пластмассы. При необходимости дополнительного изменения веса они выполняются как сплошными, так и пустотелыми. [39]

По полученным данным строят график зависимости показаний прибора от величины содержания влаги ( рис. 76), при этом по оси ординат откладывают содержание влаги ( Wp), а по оси абсцисс — показания прибора в делениях шкалы. [41]

Двойная решетка необходима для исключения зависимости показаний прибора от поляризации излучения. Проходящая мощность частично поглощается элементами решетки, в результате повышаются их температура и сопротивление. Изменение сопротивления решетки регистрируется одним из известных способов. [42]

На рис. XII-13 дан график зависимости показаний прибора от концентрации NaCl в рассоле. [43]

Обратная величина, характеризующая степень зависимости показаний прибора от трения, называется коэффициентом добротности. Этот коэффициент является важной характеристикой механических свойств электроизмерительного прибора. В выражение коэффициента добротности вводят численный множитель 10 с целью получения более удобного числа ( близкого к единице) для наиболее распространенных приборов. [44]

Читайте также:  Как называется прибор для измерения мозга

Источник

Цифровые измерительные приборы (лаба 3) / Обработка

«ЛЭТИ» им. В.И. Ульянова (Ленина)

Тема: ЦИФРОВЫЕ ИЗМЕРИТЕЛЬНЫЕ ПРИБОРЫ.

Изучение методов экспериментального определения метрологических характеристик цифровых приборов, а также их применения для измерения физических величин и оценка погрешностей результатов измерений.

1. Ознакомиться с инструкцией по применению исследуемого цифрового измерительного прибора (ЦИП).

2. Определить шаг квантования (квант) исследуемого ЦИП в режиме омметра для различных пределов измерения.

3. Экспериментально определить следующие метрологические характеристики цифрового измерительного прибора в режиме омметра:

статическую характеристику преобразования; построить график зависимости показания Rп прибора от значений R измеряемых сопротивлений Rп = F(R);

погрешности квантования для начального участка статической характеристики преобразования; построить график погрешности квантования;

инструментальную погрешность по всему диапазону измерений для выбранного предела измерений; построить график инструментальной погрешности, определить аддитивную и мультипликативные составляющие инструментальной погрешности.

4. Измерить сопротивления ряда резисторов и оценить основную погрешность результатов измерения.

Основные теоретические положения:

Основные метрологические характеристики цифрового измерительного прибора (ЦИП):

Статическая характеристика преобразования

Шаг квантования (квант, единица младшего разряда)

Основная инструментальная погрешность

Статическая характеристика преобразования устанавливает связь между преобразуемой входной величиной х и результатом преобразования хп (показаниями ЦИП), который может принимать только квантованные значения хп=Nq, где N – десятичное целое число, q – шаг квантования (квант) величины х. отсюда следует ступенчатая форма представления статической характеристики преобразования.

Статическая характеристика преобразования идеального ЦИП получается при квантовании измеряемой величины путем отождествления её с ближайшим по значению уровнем квантования. Определяется значением единицы младшего разряда показаний, равным кванту q.

Значение кванта q для идеального ЦИП связано с пределом измерений хmax и максимальным числом Nmax уровней квантования:

Статическая характеристика преобразования реального ЦИП отличается от статической характеристики идеального из-за наличия инструментальных погрешностей ЦИП.

В общем случае абсолютная основная погрешность ЦИП , где хп-показание ЦИП, х-действительное значение измеряемой величины. Эта погрешность для реального ЦИП включает и методическую погрешность квантования, и инструментальную погрешность.

Абсолютная инструментальная погрешность определяется для конкретных показаний ЦИП хп=Nq , где xN – значение входной величины, при котором происходит смена показаний xп ЦИП.

Спецификация применяемых средств измерения

Наименование средства измерений

Диапазоны измерений, постоянные СИ

Характеристики точности СИ, классы точности

Источник

Работа 3. ЦИФРОВЫЕ ИЗМЕРИТЕЛЬНЫЕ ПРИБОРЫ

Цель работы – изучение методов экспериментального определения метрологических характеристик цифровых приборов, а также их применение для измерения физических величин и оценка погрешностей результатов измерений

1. Ознакомиться с инструкцией по применению исследуемого цифрового измерительного прибора.

2. Определить шаг квантования (квант) по уровню исследуемого ЦИП в режиме омметра для различных (по указанию преподавателя) пределов измерения.

3. Экспериментально определить следующие метрологические характеристики цифрового измерительного прибора в режиме омметра:

статическую характеристику преобразования; построить график зависимости показания Rп прибора от значений R измеряемых сопротивлений Rп = F(R);

погрешности квантования для начального участка статической характеристики преобразования; построить график погрешности квантования;

инструментальную погрешность по всему диапазону измерений для выбранного предела измерений; построить график инструментальной погрешности;

аддитивную и мультипликативные составляющие инструментальной погрешности.

4. Измерить сопротивления ряда резисторов и оценить основную погрешность результатов измерения.

ОПИСАНИЕ И ПОРЯДОК ВЫПОЛНЕНИЯ РАБОТЫ

В ЦИП результата измерений представлены в цифровом виде; при этом в отличие от аналоговых приборов показания ЦИП меняются дискретно на единицу младшего разряда. Это приводит к ряду особенностей определения и представления метрологических характеристик цифровых измерительных приборов.

К основным метрологическими характеристиками ЦИП относятся: статическая характеристика преобразования, шаг квантования (квант) по уровню или единица младшего разряда показаний, основная инструментальная погрешность.

Статическая характеристика преобразования. Эта характеристика устанавливает связь между преобразуемой (входной) величиной X и результатом преобразования Хп (показаниями ЦИП), за который принимается значение Хп = Nq, где N – десятичное целое число, q — квант по уровню. Отличие ЦИП от аналоговых средств измерений – дискретный характер изменения показаний. Из этого следует ступенчатая форма представления статической характеристики преобразования.

Читайте также:  Лучший прибор для отпугивания собак

При отсутствии инструментальных погрешностей статическая характеристика идеального ЦИП определяется значениемединицы младшего разряда показаний(используется также терминразрешение), равной кванту по уровню q.

Значение кванта q определяется пределом измерений Хmax и максимальным числом Nmax уровней квантования:

Например, для ЦИП GDM-8135 q = Xмакс/(2 10 n ), где Xмакс – предел измерения, n – число разрядов отсчетного устройства.

Идеальная статическая характеристика,представленная на на рис.3.1, получается при квантовании измеряемой величины путем отождествления ее с ближайшем уровнем квантования. Изменение показаний идеального ЦИП Xп=Nq на единицу младшего разряда q происходят при фиксированных значениях входной величины равных (N – 0,5)q, где N = 1, 2,3 …. (целое число).

Характеристика реального ЦИП отличается от идеальной. Причина этого – наличие инструментальных погрешностей ЦИП. Различие проявляется в том, что смена показаний ЦИП происходит при значениях входной величины ХN, отличных от значений (N – 0,5)q.

Абсолютная основная погрешность ЦИП равна

где Хп – показание ЦИП, Х – действительное значение измеряемой величины.

Абсолютная инструментальная погрешность определяется для определенного показания ЦИП Хп = Nq (см. рис.1) по отличию реальной характеристики ЦИП от идеальной

где ХN – значение входной величины, при котором происходит смена показаний Хп ЦИП (показания меняются на единицу младшего разряда).

Рис. 3.1. Статическая характеристика преобразования ЦИУ

Для экспериментального определения статической характеристики ЦИП в режиме омметра необходимо подключить ко входу ЦИП магазин сопротивлений. Предел измерения ЦИП выбрать по указанию преподавателя, определить для этого предела значение единицы младшего разряда q. Определить единицу младшего разряда магазина qм, проверить выполнение условия q >> qм, при этом условии можно пренебречь дискретным характером изменения сопротивления магазина.

При плавном изменении сопротивления магазина следить за изменением показаний, фиксируя при этом значения сопротивления магазина R, при которых показания Rп меняется на единицу младшего разряда, например: 0,000; 0,001; 0,002; 0,003…… кОм (всего 8-9 значений). Результаты измерений занесите в таблицу 1.

По этим значениям построить начальный участок графика статической характеристики ЦИП в режиме омметра Rп = F(R) и график абсолютной основной погрешности ΔR(R) = F(R) — Fл(R), где Fл(R) – характеристика идеального (без квантования) омметра в виде прямой линии Rп = R.

Определение абсолютной инструментальной погрешности. Для выбранного предела измерений определите инструментальную погрешность для 8-10 точек равномерно распределенных по диапазону измерений. Инструментальная погрешность определяется по формуле (3.1), при этом RN – значение сопротивления магазина, при котором происходит смена показаний Rп ЦИП на единицу младшего разряда в выбранной точке, например, со значения 1,435 кОм на значение 1,436 кОм.

Результаты измерений и расчетов занесите в табл. 2.

Определение аддитивной и мультипликативной составляющих погрешности. В зависимости от характера изменения погрешности по диапазону измерения ЦИП погрешности делятся на аддитивные и мультипликативные. Аддитивные погрешности не зависят от значения измеряемой величины X, мультипликативные растут с увеличением X. Обычно для ЦИП погрешность задается в виде модели DX = a + bX, где a и bX — аддитивная и мультипликативная составляющая погрешности соответственно.

Постройте график зависимости DRиN = F(RN) для выбранного диапазона ЦИП. По графику определите аддитивную и мультипликативную составляющие погрешности ЦИП.

Измерение сопротивлений. По заданию преподавателя измерьте сопротивления каждого из выбранных резисторов на различных диапазонах измерения ЦИП, оцените основную погрешность измерения по формулам, приведенным в описании прибора. Результаты представьте в таблице 3.

Диапазон измерения Квант по уровню для диапазона Ом Показания ЦИП R, кОм Абсолютная погрешность измерения DR, кОм Относительная погрешность измерения % Результат измерения R ± DR, кОм

Сделайте выводы о характере изменения погрешности в зависимости от соотношения между измеряемой величиной и диапазоном измерения.

Метрология, стандартизация и сертификация : учебник для студ. высш. учеб. заведений/[Б.Я.Авдеев, В.В.Алексеев, Е.М.Антонюк и др.]; под ред В.В.Алексеева. – М. : Издательский центр «Академия», 2007. стр. 155-160.

Источник

Adblock
detector